Mikroskop Nedir? Mikroskop Hakkında Bilgi Mikroskop Neye Denir? Mikroskop Çeşitleri

Mikroskop Nedir? Mikroskop Hakkında Bilgi Mikroskop Neye Denir? Mikroskop Çeşitleri
Mikroskop Nedir? Mikroskop Hakkında Bilgi Mikroskop Neye Denir? Mikroskop Çeşitleri MİKROSKOP:Çok küçük cisimlerin büyütülmüş görüntüsünü elde etmekte kullanılan aygıtMikroskobun oluşturduğu görüntüye doğrudan yada bir ekran aracılığıyla bakılabilir yada bu görüntünün fotoğrafı çekilebilirMikroskopla incelenecek cisimler saydam yada saydamsız olabilirBileşik mikroskoplarla bakteri boyutlarındaki cisimler incelenebilir,öte yandan elektron mikroskobuyla küçük virüslerin ve büyük moleküllerin görülmesi olanaklıdır
OPTİK MİKROSKOPUN TARİHÇESİ:ilk mikroskop türü 15 yy’nin ortalarından başlayarak büyüteç olarak kullanılan tek mercekli yalın mikroskoptuGeliştirdiği tekniklerle çok yüksek nitelikli mercekler yapmayı başaran Felemenkli doğa bilimci ANTONİE VAN LEEUWENHOEK (1632-1723)bunlarla 2-3 mikrometre(0,002-0,003mm)çapındaki bakterileri incelemeyi başardıO dönemde böyle tek mercekli mikroskoplar renksel sapınç(aberasyon)sorununu artıran bileşik (iki yada daha fazla mercekli) mikroskoplara yeğlenmekteydiİlk bileşik mikroskop 1590-1609 arasındaki dönemde Felemenkte yapıldı;bu tür mikroskobu Hans Jansen,onun oğlu Zacharias yada Hans Lippershey’in bulduğu kabul edilirBulunuşundan kısa bir süre sonra İtalyan ve İngiliz optikçilerin yaptıkları bileşik mikroskoplar yaygın olarak kullanılmaya başlandı;ama bu mikroskoplarda kullanılan merceklerin renksel sapıncın görüntünün renklenmesine ve bozulmasına yol açıyorduİlk olarak teleskoplarda kullanılan merceklerin renksel sapıncı büyük ölçüde ortadan kaldıran renksemez(akromatik)mercekler mikroskopla 18yynin sonlarında hollandada kullanılmaya başladıayrılımı(farklı dalga boylarındaki ışının kırılma indisinin farklı olması nedeniyle değişik renklerin farklı miktarlarda kırılarak birbirinden ayrılması)düşük crown camından yapılmış bir dış bükey(tümsek) mercek ile ayrılımı yüksek flint camından yapılmış bir iç bükey (çukur9merceğinin birleştirilmesiyle oluşturulan renksemez merceklerin yapımına ilişkin bir kuramsal çalışmayı İngiliz optikçi Joseph Jackson Lister gerçekleştirdi(1830)mikroskop tasarımında en önemli gelişme alman fizikçi Ernst Abbe(1840-1905)tarafından gerçekleştirildiAbbe, yağa daldırılmış objektif tekniğini(objekif ile incelenecek cisim arasına bir yağ damlasının yerleştirilmesi yöntemi)buldu,cisim üzerine ışığın yoğunlaştırılmasının sağlayan kondansörü geliştirdi,merceklerin ayırma gücü ve ışık toplama yeteneklerinin belirlenmesin sağlayan “sayısal açıklık”kavramını ortaya koydu ve yükesk nitelikli,sapınçsız apogromatik mercek sistemini geliştirdiAbbe ,mikroskopda ayırma yönteminin optik sisteminin sayısal açıklığının büyütülmesi yada daha kısa dalga boylu ışık kullanılmasıyla yükseltilebileceğinide belirlrdiGörünür ışık kullanılarak birinci yöntemin kuramsal sınırına ulaştıkdan sonra, ikinci yolun denemesine geçildi, böylece mor ötesi ışınından yararlanan mikroskoplar geliştirildi,ama bu tür mikroskopların yapımında önemli teknik sorunlaral karşılaşıldı1924’de Fransız fizikçi Leouis Victor Broglie ,elektron demetinin bir dalga hareketi gösterdiğini ortaya koyduElektron demetinin dalga boyunun ışığın dalga boyuna oranla çok daha kısa olmasından yararlanılarak 1930 lu yıllarda elektron mikroskobu gerçekleştirildiElektron mikroskoplarıyla elde edilen büyütme gücü 50000in üstündedir
BİLEŞİK MİKROSKOP:Tek bir yakınsak mercekten oluşan ve yalın mikroskop olarakda adlandırılan büyüteçlerle 20’den yüksek büyütme gücü elde edilmesinde merceğin sapınç özelliklerinden kaynaklanan önemli sorunlar ortaya çıkarGünlük yaşamda kullanılan büyütme gücü düşük büyüteçlerin yanı sıra duyarlı mekanik aygıt yapımcılarının gözlerine kıstırarak kullandıkları ve saatçi gözlüğü denilen büyüteçler yalın mikroskopların günümüzde yararlanılan örneklerdirÇift dışbükey (İki yüzü de dışbükey) ya da düzlem-dışbükey(bir yüzü düzlemsel,öteki yüzü dışbükey)bir yakınsak mercek olan büyüteçte görüntü sanal ve düzdür
Bileşik mikroskopda temel olarak iki yakınsak mercek bulunurBunlardan incelenecek cisme bakan merceğe objektif(cisim merceği),göze yakın olanada göz merceği8oküle) denirincelenecek cisim üzerine ya bir iç bükey ayna ya da bir ışık kaynağı ile bir yakınsak mercek sisteminden (kondansör)oluşan aydınlatma sistemi aracılığı ile odaklanmış ışık düşürülürO bjektif ile göz merceği uygun bir mekanizma racılığıyla birbirine göre ileri-geri,yada örneğin yerleştirildiği tabla aşağı-yukarı hareket ettirilebilir ve böylece objektif ile cisim arasındaki uzaklık çok duyarlı o biçimde ayarlanılabilir
Objektifin odak uzaklığı büyütme gücü düşük mikroskoplarda 25-75mm,orta büyütmeli mikroskoplarda 8-16mmyüksek büyütmeli mikroskoplarda ise 2-4 mm dirÇok küçük odak uzaklıklar yağa daldırılmış objektiflerde kullanılırCisim objektifinin odak noktasının önüne ve odağa çok yakın olarak yerleştirilir, bu durumda objektifin arka odak düzleminin gerisinde,cisme göre ters ve büyük bir gerçek görüntü elde edilirBu görüntünün cisme oranla büyüklüğü,2 ile 100 arasındadırBu görüntü, büyüteç olarak çalışan ve sanal görüntü oluşturan göz merceği tarafından daha da büyütülür
ÖZEL MİKROSKOP TÜRLERİ:Stereoskopik mikroskoplar birbirine özdeş iki mikroskotan oluşurBunların eksenleri arasında yaklaşık 16 derecelik bir açı vardır, böylece iki eksenin incelenecek cisim üzerinde kesişmesi sağlanır, bu tür mikroskoplarla cismin stereoskopik bir görüntüsü elde edilirGözlenen cismin düz görüntüsünü elde etmek için prizma kullanılırtek bir objektifi bulunan ve ışık ışınlarını ikiye ayırarak iki göz merceğini yönelten türden stereoskopik mikroskoplarda yaygın olarak kullanılır
Ultra mikroskop,koloit(asıltı) parçacıklarını incelemek amacıyla 19032te geliştirilmiştirAdi mikroskopla gözlenemeyecek kadar küçük olan bu parçacıklar güçlü bir ışık kaynağı aracılığıyla mikroskop eksenine dik doğrultuda ışıkla aydınlatırparçacıkların saçılıma uğrattığı ışık karanlık zemin önünde oluşan parıltılar biçiminde gözlenirBu yöntemde 5-10 milimikron çapında parçacıkların oluşturduğu parıltıların gözlenmesi olanaklıdır
ELEKTRON MİKROSKOPU :Fransız fizikçi Louis- Victor Broglie1924’te ,o döneme değin maddesel parçacık olarak kabul edilen elektronların ve öteki parçacıkların aynı zamanda dalga özekliği gösterdiğini ortaya koydu elektronların dalga yapısı 1927’de deneysel olrak saptandıparçacıkların bir dalga olarak sahip oldukları dalga boyunu veren ve broglie’nin ortaya koyduğu eşitliğe göre, örneğin 60000 voltla hızlandırılmış elektronların etkin dalga boyu 0,05angströmdür(bir angström=10 m9,bir başka deyişle yeşil ışığın dalga boyunun 1000002de 1 ine eşittirbu nedenle mikroskopta ışık yerine böyle bir dalganın kullanılması durumunda ayırma gücünün çok büyük ölçüde artması beklenebilirelektrostatik ve magnetik alanların elektronlardan yada başka yüklü parçacıklrdan oluşan demetleri saptırabildiği ve odaklayabildiğini 1926’da kanıtlanması üzerine ayrı bir fizik dalı olarak elektron optiği(*)ortaya çıktıilk elektron mikroskopu 1933’te gerçekleştirildi;optik mikroskoplarla elde edilbilen ayırma gücü elektron mikroskopu kullanılarak birkaç yıl içinde aşıldıİlk ticari elektron mikroskopunun yapımına 1935’te ingilterede başlandıBunu Almanya ve ABD izlediGünmüzde elektron mikroskoplarıyla 3 angströmden küçük uzunluklar seçilebilmekte ,böylece büyük moleküllerin doğrudan gözlenmesiolanaklı olmaktadır
Optik mikroskopa göre farklar;Elektronlar hava içinde hava molekülleriyle çarpışmalarından ötürü yol alamadıklarından,elektron demetinin geçtiği yolda havanın boşaltılmış olması gerekirBu nedenle canlı örnekler elektron mikroskopuyla incelenemezOptik mikroskopta merceklerin odak uzaklıkları sabittir ve odaklama için örneğin objektife uzaklığı değiştirilirElektron mikroskopunda kullanılan elektrostatik yada magnetik alanlı merceklerin odak uzaklıkları değişkendir ve kolaylıkla ayarlanılabilir;bu nedenle mercekler arasındaki uzaklık ve örneğin objektife uzaklığı sabit tutuluroptik teleskoplarda genellikle sana görüntü elde edilir;elektron mikroskopunda ise görüntü gerçektir,bu nedenle flüorışıl bir ekran üzerinde oluşturularak doğrudan görülür bir duruma getirilebilir yada film üzerinde oluşturularak fotoğrafı elde edilebilir
GEÇİŞLİ ELEKTRON MİKROSKOPU:Elektron demetinin,incelenen örneğin içinden geçerek görüntü oluşturduğu geşçişli elektron mikroskoplarında başlıca 3 bölüm bulunur
1)Elektron demetini üreten ve örneğe odaklayan bölüm
2)Görüntüyü oluşturan bölüm
3)Görüntü izleme bölümü

Elektron demetini oluşturan bölüm elektron tabancası (*)olarak adlandırılırElektronlar içinden akım geçirilerek ıslatılmış tungsten telden bir katottan salınırkatota göre artı potansiyelde tutulan disk biçiminde bir elektron olan anota doğu hızlanan elektronlar anottaki delikten bir demet biçiminde geçerlerBu elektron demeti bir yada iki elektromagnetik mercekten oluşan kondansör(toplayıcı)tarafından örnek üzerine odaklanırbir bakır ızgara üzerine yerleşmiş olan örnekten geçen elektron demeti 1-5mm odak uzaklığı objektif merceği aracılığıyla örneğin 20-200 kez büyütülmüş gerçek görüntüsünü oluştururBu örüntü projektör merceği denilenbir yada iki mercek tarafından dahada büyültülürSonuç olarak 1000-50000 kez büyütülmüş bir elektron görüntüsü elde edilirBu görüntüyü insan gözünün algılayabileceği biçime dönüştürmek amacıyla flüorışıl bir ekran kullanılırElektron görüntüsü doğrudan film üzerinedüşürülerek görüntünün fotoğrafıda elde edilebilirBu durumda fotoğrafik büyüme yöntemiyle görüntünün dahada büyütülmesi oanaklıdırFlüorışıl ekranda oluşan görüntü de ,bir optik mikroskopla yaklaşık 10 kat büyütülerekgözlenir Mikroskopun elektron tabancasından ekran yada filme kadar tüm bölümlerinin elektronlarının serbestçe yol almalarını sağlamak üzere ,havası boşaltılmış bir sistem içinde bulundurulması gerekir
YÜKSEK GERİLİMLİ MİKROSKOPLAR:alışılagelmiş elektron mikroskoplarında elektronları hızlandıran gerilimin değeri 1000 kilovolt civarlarındadırBuna karşılık ,1200000 voltluk gerilimler kullanılan mikroskoplar da yapılmştırYüksek gerilimler kullanmanın üstünlüklerini şöyle sıralanabilir
1)Hızlandırıcı gerilim yükseldikçe elektronların hızı büyür,dalga boyu küçülür,sonuçta mikroskopun ayırma gücü yükselir
2)Hızlı elektronlar kalın örneklerden daha kolay geçer
3)enerji kayıplarından kaynaklanan renksel sapınç azalır
4)Örnek daha az ısınır ısınmanın örnekte yol açtığı etkiler azalır
5)Elektron kırınım desenlerinin ayırma gücü yükselirBunlara krşılık ,yüksek gerilimlerin sabit ve kararlı bir biçimde elde edilmesinde zorluklarla karşılaşılıryüksek hızlı elektronların yolu üzerindeki cisimlere çarpmasıyla ortaya çıkan x ışınlarının mikroskopu kullananlara zarar vermemesi için gerekli önlemlerin alınması gerekir
TARAYICI ELEKTRON MİKROSKOPU:Cisimlerin yüzeyini incelemek üzere geliştirilen tarayıcı elektron mikroskobunda uygun bir saptırıcı düzenek aracılığıyla bir elektron demetinin incelenecek yüzeyi sürekli sürekli olarak taraması sağlanırYüzeye çarpan elektronlar yüzeyden ikincil elektronların fırlamasına yol açarBu ikincil elektronlar bir karpışım kristaline(elektronların çarpışmasıyla kısa süreli ani ışık parlamaları oluşturan kristal)gönderilirKristalde ortaya çıkan parlamalar bir fotoçoğaltıcı lamba (*) aracılığıyla yüzbinlerce kez yükseltilerek elektrik sinyaline dönüştürülürBu elektrik sinyali bir katot ışınlı lambadaki(televizyon görüntü tüpü)görüntünün parlaklığını denetlerKatot ışınlı lambanın ekranını tarayan demetin mikroskopla incelenecek yüzeyi tarayan demetle eşzamanlı tarama yapması sağlanırBöylece lamba ekranındaki bir noktanın parlaklığı, örneğin yüzeyinde bu noktaya karşılık gelen noktadan salınan ikincil elektronların sayısıyla orantılı olurSonuç olarak ekranda incelenen yüzeyin yapısını gösteren bir görüntü elde edilir
ALAN ETKİLİ MİKROSKOP:Alan etkisiyle salım(*) olgusundan yararlanarak çalışan bu aygıt, temel olarak bir katot ışınlı lamba içine yerleştirilmiştir,çok ince bir telden oluşurGüçlü bir elektrik alanının etkisiyle telin ucundan elektronlar fırlar;bu elektronlar lambanın flüorışıl ekranına düşerek ekranda ince telin ucunun görüntüsünü oluştururBöyle bir aygıtta büyütme,flüorışıl ekranın eğrilik yarıçapı ile telin ucunun yarıçapı arasındaki orana eşittirBu yöntemle yalnız yüksek sıcaklıklara dayanıklı tungsten,platin,molibden gibi metaller incelenebilir,çünkü telin ucunda ortaya çıkan yüksek akım yoğunluğu yüzünden büyük akım açığa çıkar